05 известен способ измерения деформаций внутри исследуемого образца из оптически непрозрачного материала, заключающийся в том, что в образец вводят координатную сетку из рентгенонепроницаемых материалов, напри мер свинца, по изменению размеров к торой судят о деформации образца. Сетку выполняют из микропорошка или краски l. Однако этот Способ не позволяет определить деформации нескольких сл ев образца. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей путем одновременного измерения деформаций нескольких.слоев образца. МАТЕРИАЛА Поставленная цель достигается тем, что на каждый исследуемый слой образца наносят координатные сетки различной конфигурации. Способ осу«чествляется следукмцим образом. На поверхность каждого исследуемого слоя образца наносят координатные сетки различной конфигурации. Координатные сетки наносят, например, на заточном станке острозаточеннь м кругом и в полученные углубления вносят краску или микропорошок. Координатные сетки можно также наносить путем глубокого вакуумирова-, НИИ рентгенонепроницаемого материала в исследуемые слои при помощи трафаретов различной конфигурации для каждого слоя. После нанесения сеток слои соединяют, например склеивают, и делают эталонный снимок. Затем многослойный образец подвергают испытаниям и регистрируют при помощи рентгеновской съемки изменения коор392 динатных сеток каждого исследуемого слоя. Сравнивая полученные снимки с эталонным, судят о деформациях всех исследуемых слоев. Использование предлагаемого способа позволяет одновременно измерить деформации нескольких слоев образца, При изготовлении многослойных конст-рукций, например, корпусов летательных аппаратов, сосудов высокого давления, предлагаемый способ позволит выбрать оптимальное количество елоев, материалы, из которых они изготавливаются, и клей, соединяющий эти слои. формула изобретения Способ измерения деформаций внутри исследуемого образца из оптически непрозрачного материала по авт. св. № 520511, отличающийся тем, что, с цель1о расширения функциональных возможностей путем одновременного измерения деформаций нескольких слоев образца, на каждый исследуемый слой образца наносят координатные сетки различной конфигурации Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 520511, кл. G 01 В 15/06, 1972 (прототип)."/>